杰克·基尔比（Jack Kilby）和罗伯特·诺伊斯（Robert Noyce）因发明集成电路而获得诺贝尔物理学奖。这一发明彻底改变了电子设备的发展，为现代信息技术奠定了基础。
集成电路测试是验证设计、监控生产、保证质量、分析失效以及指导应用的重要手段，近日，随着集成电路测试技术的不断进步，整个产业迎来了高质量发展的新阶段。
近日，在集成电路领域的一次重大突破中，全新的集成电路测试解决方案正式发布。该方案不仅显著提高了测试效率，还为整个行业树立了新的标准。
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